國際 周裕穎6度登紐約時裝週 演繹莊普方寸印畫 芋傳媒 2020-02-12 20:19 服裝設計師周裕穎以藝術家莊普「雙重痕跡」畫冊中經典作品為靈感,重新演繹莊普以 1 公分見方印章蓋印上萬次的「方寸印畫」系列作品, 11 日 6 度登上紐約時裝週,再次大放異彩。